x射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的强度。

　　根据上式，可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。

　　但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。

　　化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。